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測鍍層X熒光光譜儀知多少!
更新時間:2019-11-20 點(diǎn)擊次數(shù):5336
       測鍍層X熒光光譜儀可全自動軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動平臺。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
  一、性能特點(diǎn):
  滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
  φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
  高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
  采用高度定位激光,可自動定位測試高度
  定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
  鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
  高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
  良好的射線屏蔽作用
  測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
  二、應(yīng)用領(lǐng)域:
  黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
  金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
  主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
  三、技術(shù)指標(biāo):
  元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
  一次可同時分析較多24個元素,五層鍍層。
  分析檢出限可達(dá)2ppm,較薄可測試0.005μm。
  分析含量一般為2ppm到99.9%。
  鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
  任意多個可選擇的分析和識別模型。
  相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
  多變量非線性回收程序
  多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%
  長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
  度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
  以上就是測鍍層X熒光光譜儀的性能特點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域,希望能幫助大家更好地了解測鍍層X熒光光譜儀。

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