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EDX8800E-X熒光光譜儀

型號(hào):

產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-30

簡(jiǎn)要描述:

EDX8800E-X熒光光譜儀規(guī)格:1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-鈾)抽真空2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%3.Z低檢出限:1PPM

產(chǎn)品目錄

Product catalog

詳細(xì)介紹

EDX8800EX熒光光譜儀規(guī)格:

1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-U)抽真空

2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

3.zui低檢出限:1PPM

4.能量分辨率129±5ev

5.樣品腔尺寸:520*310*120(MM)

6.多次量測(cè)重復(fù)性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)

                                                        ±0.002%(微量)

 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)


                                                        ±0.0025%(微量


EDX8800EX熒光光譜儀應(yīng)用區(qū)域

1.ROHS\無(wú)鹵檢測(cè)指令

  CD <100   PB<1000

  HG <1000 Cr6 <1000

  PBBS <1000

 PBDEs <1000

2.合金分析領(lǐng)域

   銅合金 不銹鋼 AL 鍍層

3.包裝指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(94/62/EC)

   CD PB Hg Cr6 <100

4.玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

    EN71-3

5 .鍍層成分分析

    鍍層厚度分析

    鍍層環(huán)保檢測(cè) 

 

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